Elektronenmikroskopische Abbildungen widerspiegeln nun die echte atomare Struktur von Materialien und können selbst bei Elektronenenergien aufgenommen werden, welche die Integrität der Materialien weitgehend unverletzt lässt.
Neben der Grundfunktion des Elektronenmikroskops hat sich auch die entsprechende Analytik weiterentwickelt. Atomar aufgelöste spektroskopische Daten geben Aufschluss über lokale Bindungsverhältnisse. Die neuen Abbildungseigenschaften kombiniert mit der modernen Analytik erlauben es, Materialien auf der für sie grundlegenden, d.h. atomaren, Längenskala zu untersuchen. Dies ist für die Erforschung neuartiger Materialien zentral.
Nach einem kurzen Überblick der technischen Errungenschaften in der Transmissionselektronenmikroskopie wird deren Nützlichkeit an ausgewählten Beispielen aufge- zeigt.
E-Mail: rolf.erni@empa.ch
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